IK KOM IN OPSTAND, DUS WE ZIJN

نویسندگان
چکیده

برای دانلود باید عضویت طلایی داشته باشید

برای دانلود متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

Ik 2009

KI 2009 is the 32nd edition of the German Conference on Artificial Intelligence, which traditionally brings together academic and industrial researchers from all areas of AI. The technical programme of KI 2009 will comprise paper and poster presentations and a variety of workshops and tutorials. We invite proposals for workshops to be held at the beginning of the conference. Eligible topics inc...

متن کامل

Ik 2009

This year’s IK attracted 179 participants to its traditional location at the HeinrichLübke Haus in Günne at Lake Möhne. We were a good mix of researchers from Bachelor to Professor level, coming from more than ten countries, with diverse backgrounds from cognitive science, neuroscience, computer science, mathematics, psychology, music and philosophy. We had in common an open mindset and the des...

متن کامل

Ik 2008

In der ersten Märzwoche ist jedes Jahr alles ganz anders in der Familienbildungsstätte im Heinrich-Lübke-Haus in Günne am Möhnesee. Wo letzte Woche noch Kinder spielten, bewegen sich nun Wissenschaftlern aus aller Welt. Der gesamte Komplex ist von Informatikern, über Biologen, Psychologen und Kognitionswissenschaftler bis zu Philosophen übernommen worden. Alle interessieren sich für Forschung a...

متن کامل

Two new neolignans from Syringa velutina Kom.

Two new neolignans, (7S,8R)-guaiacylglycerol-8-O-4'-sinapyl ether 9'-O-beta-D- glucopyranoside (1) and (7S,8R)-syringylglycerol-8-O-4'-sinapyl ether 9'-O-beta-D-gluco- pyranoside (2) were isolated from the leaves of Syringa velutina Kom.. Their structures were established by chemical properties and spectroscopic evidence.

متن کامل

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: De Uil van Minerva

سال: 2020

ISSN: 0772-4381

DOI: 10.21825/uvm.v32i2.15823